生产线/实验室无损检测服务解决方案

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XT V 160工具

产品介绍

XT V 160也被称为Revolution，是利用X-Tek 20年纳米级焦点X射线技术方面的经验研制开发的产品。该系统提供了一个结构紧凑的系统内可能获得的最高分辨率和放大倍数，非常适用于生产线上和故障分析实验室内电子零部件的检测。

XT V 160是一款通用工具，使操作人员很方便地利用该系统的手动和编程检测功能。最为重要的是，它可用于计算机断层扫描CT检测，根据其完整的三维图像，重构该试样。该设计用于100% BGA和μBGA 检测，多层板检测和PCB焊接点检测，XT V 160 X射线检测系统是一个使用简便，分辨率高和成本低廉的检测解决方案，是检测实验室必不可少的骨干设备。对于小型的高装配密度的印刷电路板，上面大量的焊接的零件互相重合遮挡，X射线的透视功能是唯一的高效无损检测手段。XTV160为设计造与质量分析部门提供简捷高效的印刷电路装配与电子元器件检查系统。在自动检测模式下可对样品进行快速检测，手动模式下可以在软件中直观的进行高精度操作，操作者可以对样品中微小的故障缺陷进行可视化确认分析以及保存结果。

XT V 160 检测优点

•操作使用直观

•能在很短的时间内获得高质量图像

•市场领先的放大倍数，适用于100%板检测

•75°倾斜视角（板平面的方位角为15°）

•购置成本低

•安全装置，可作为设计标准

•占用空间小

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